面向Beyond5G/ADAS應用場景評估分析頻率特性的解決方案
這是Advantest太赫茲光學采樣分析系統的一個選項。它適用于評估無線電波吸收器、印刷電路板材料、聚合物材料等的頻率特性，這些材料是下一代無線通信技術（后5G/6G）和用于ADAS（高級駕駛員輔助系統）的毫米波雷達所*的。可評估毫米波至太赫茲波段，各種材料的傳輸特性（透射率、反射率）和復介電常數。
通常在評估各種材料在毫米波和高頻段區域的傳輸特性（透射率、反射率）和復介電常數的時候我們會用到矢量網絡分析儀 (VNA)* ，而如今隨著5G技術的廣泛應用和衍生技術的迭代更新，對于在更寬的帶寬上評估這些特性的需求變得更為迫切。同時在使用VNA評估這些特性時需要設置和校準每個頻段，故此帶來的時間和精力消耗引發了一系列的問題。
TAS7400TS太赫茲光學采樣分析系統新增高分辨率配件。新配件為無線電波吸收材料和基材的高頻特性評估提供了開創性的測量方法，這對于后5G / 6G的下一代通信技術和ADAS（高級駕駛輔助系統）中使用的毫米波雷達技術而言是很重要的。
在新配件的加持下，用戶可以通過使用緊湊的光學采樣系統獲得的更具優勢的測量環境進行測量，從而節省成本和空間。此外，TAS7400TS的掃描測量配件可以分析表面頻率特性，而此次新配件的頻率分辨率和掃描速度是以前產品的5倍，使其成為了評估新材料高頻特性的*佳解決方案。
系統配置建議（30 GHz 至2 THz）
可利用緊湊型設備來測定從毫米波到太赫茲波的電磁特性
● 實現380MHz高頻率分辨率
● 不需要VNA那樣切換掃頻波段，一次實現寬帶寬 （30GHz~2THz） 的測定
● 40ms的掃描速度對寬帶寬進行掃描
● 系統配有透射/反射測量模塊，更容易校準設備
● 通過遠程編程功能就能實現二維掃描測量
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矢量網絡分析儀（VNA）是通過測量網絡各個端口對頻率/功率掃描測試信號的幅度與相位響應，從而測量器件網絡特性的儀器，它結合了頻譜分析，信號發生以及信號分離等各項技術。應用于芯片測試，微波器件，材料科學，電子通信等基礎性行業和領域。
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